产品简介
高达1.1THz毫米波（mmW）器件和材料的晶圆级电性测量。
业界领先的毫米和亚毫米波长器件在片测试性能。T-Wave 探针设立了毫米波器件特性分析的业界标准。这款探针在测试金pad时提供了低插入损耗和低接触电阻。具有极佳的针尖可见性。能够对 1.1 THz 器件进行特性分析。典型插入损耗 < 1.5 dB（在 140 GHz 至 220 GHz 频率范围内）。集成了低阻型 GPPO 连接器和DC bias-T。
产品特性
低插入损耗
低接触电阻
140 GHz 至 1.1 THz 版本
探针间距窄至 25 μm
采用光刻方法确定的探针针尖
镍触点
