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150mm探针台200mm探针台300mm探针台大功率探针台硅光探针台低温探针台探针与针座探针台功率放大器场强测量电波暗室混响室OTA测试暗室横电磁波室GJB151A/B标准测试RTCA DO-160G标准测试电磁兼容民用设备测试系统电磁兼容测试失效分析测试设备半导体后道封装测试设备信号源频谱分析仪/信号分析仪矢量网络分析仪功率探头&功率计示波器阻抗调谐器电源直流测试误码仪采样示波器光源光开关光滤波器光衰减器光功率计光谱仪光波元器件分析仪时钟恢复(CDR)光波长计OTDR光芯片测试系统测试仪器仪表Maury Microwave射频微波测试附件国产射频微波测试附件电磁兼容测试附件FormFactor/Cascade探针台测试附件测试附件THz在片测试系统WAT测试系统高压在片测试系统光电在片测试系统硅光在片测试系统射频在片测试系统失效分析在片测试系统在片负载牵引测试系统直流在片测试系统自动测试软件晶圆在片测试系统AM3200系列Pulsed IV测试系统MT1000/MT2000 系列有源负载牵引测试系统电源自动测试系统多通道超宽带信号生成和测试解决方案数据采集系统设备微波射频前端半实物协同仿真平台无源-有源混合负载牵引测试系统射频微波测试系统和解决方案电波暗室GTEM横电磁波室混响室OTA测试暗室汽车整车及零部件EMC测试系统电磁兼容民用设备测试系统电磁兼容测试系统和解决方案维修租赁现货代测行业资讯社会新闻公司简介联系我们招贤纳士

失效分析在片测试系统

失效分析在片测试系统
产品详情


MPS150 - 150 mm Probe Station - Configuration Example:Failure A

故障分析与设计调试

  • 稳定的显微镜桥设计和XY显微镜,放大倍数高达4000倍(可选)

  • 激光切割机和相机准备就绪

  • 触点亚微米特征

  • 同时使用探针卡和单针(选件)

  • 用于单个 DUT 的芯片载物台

  • 从晶圆至芯片至封装的极快转移

  • 具有1μm功能分辨率的真空定位器

  • 具有纳米级分辨率和准确度的 DPP450 针座(选项)

产品手册 下载


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