射频在片测试系统

产品简介

Formfactor的RFgenius晶圆上S参数测量包，包括以合理的价格实现精确测量所需的所有关键组件 – 从探测站到网络分析仪。所有这些都经过验证并证明可提供领先的性能测量。这个入门级系统是大学和学校的完美，易于购买的选择，实验室空间最小。

RFgenius软件包包括执行高度精确测量的所有关键组件。不仅是探针台，探针，定位器，电缆，校准基板和校准软件，还有矢量网络分析仪（VNA） – 业界首创。

该解决方案的性能范围得到了进一步增强，远远超出了简单的产品包。这些组件的完美集成，与先进的人体工程学设计和易于操作的控制相结合，确保了最佳的可用性和高度精确的测量。

标准配置

1. 150毫米手动探针台：

• • RF卡盘+/-3μm表面平面度

  • 独特的200μm压板接触/分离行程，精度小于或等于1μm，可重复接触

  • 精准的探针对准

  • 一致的接触力和超行程

  • 稳定的接触性能

2. 是德科技VNA：

• • 宽频率覆盖范围：4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz

  • 全2端口VNA

  • 小巧紧凑的外形

  • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校准和计量功能

  • Keysight VNA的通用GUI

  • 能够扩展端口数量

3. 探头和电缆：

• • 无限探头– 最适合AI（Si）

  • ACP探针– 最适合AU（III-Vs）

  • | Z | 探测– 坚固的解决方案，使用寿命长

  • 精确接触各种材料

  • 准确的测量结果和卓越的串扰特性

  • 包含了匹配的电缆和衬底

4. 校准工具：

• • 独有的 1、2、3 和 4 端口晶圆上校准算法

  • 自动化校准监视

  • 独特的测量和分析方法

  • 准确的S参数测量

  • 自动校准设置用于提高效率

  • 简便快捷的数据解释和报告

完整的软件包，以及可用的支持，安装和培训。